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1 目的:
通过运用SPC统计过程管制的方法,达到管制产品实现的过程,能及早发现质量问题,并及时加以分析解决,减少或排除不良品的产生.
2 范围:
本公司自进料至最终出厂的制程研究或管制及客户有要求的(如Jabil等),依质量的要求须
实施SPC的控制点或面均属之.(目前主要使用的工具有 -R管制图、频数分布直方图、过程能力指数Cp及Cpk分析三种)
3 职责与权限:
3.1 品质部:负责公司SPC的推广应用与日常维护管理,定期检查和分析SPC实施状况,并依据SPC发现制程或品名别的异常,为纠正和预防措施的提供证据。
4 定义:
5.1 统计过程管制SPC(Statistical Process Control)是运用统计方法来监控产品实现过程的质量状况,从而达到保证产品质量的目的.
5.2 -R管制图是一种通过利用样本统计数据,反映和管制总体过程质量的特性;
4.3 频数分布直方图,也叫柱状图,是通过对产品实现过程中产品质量分布状况的描述与分析,来判定产品实现过程质量的一种程序管制方法;
4.4 过程能力CPK是指过程的加工质量满足技术标准的能力,它是用来衡量产品/过程加工内在一致性的.亦可称之为工序能力.过程能力指数是反映被监控对象满足技术要求的程度,若客户没有特别要求本厂PPAP中所列明的独立工序(包产品或过程重要特殊特性)及生产制程均分别需达到CP ≥1.67及CPK ≥1.33.产品 CPK 未能达到 1.33 或以上,本厂必须执行内部围堵措施.若客户有特别要求则按照客户的要求执行, 本厂必须实时通知客户并提交纠正措施报告给有要求的客户.
5 程序说明:
5.1应用条件:
5.1.1. 凡经客户指定的新模具或新制程在量产开始前或作业中,应用〔Ca制程准确度以确保中心值是否一致,Cp制程精密度以确保分散宽度的大小或CpK制程能力指标以确保形状变化〕的统计手法,来衡量所设定的既有制程的4MIE(人员、材料、方法、设备、环境)是否能达到预期效果,以确保客户的满意与本公司的成本能产生最大的综效.
5.1.2. 凡CpK值经调查验证可以符合客户与本公司的要求者依下列条件实施管制作业.
5.1.2.1.凡制程段或产品在一个月内被开立五张以上的重大不良处理单.
5.1.2.2.制程段新进试用作业人员超过20%以上时.
5.1.2.3.客户书面要求时.
5.1.2.4.客户要求或公司管理层认为需要时.
所实施的管制作业主要以P不良率管制图或X-R管制图或柱状图,推移图为主,依作业的质
量特性选择适当的管制方法由品管或指定的人员实施.
5.1.3.凡产品的质量特性经5.1.2管制连续三个月呈稳定可控制状态或本来即已呈可控制稳定状态者,品管人员在实施巡检时,或生产人员实施自检时,则以实施预先管制做为制程保证的手段.
5.1.4上述管制手段的应用,若在该制程或产品相关的4MIE(人员、材料、方法、设备、环境)发现须进行较大幅度的变更时,由品管以厂内联络单经公司主管核准后依须要再次执行5.1.1或5.1.2的工作.期以确保质量的变异均在可控制之范围内.
5.2 应用方法(符合5.1.1之规定时):
5.2.1 Ca、Cp、CpK值的应用:
5.2.1.1.凡新模具试产,打样(客户要求)时品管人员至少须求得该产品在既有4MIE的管理下其CpK值的状况,以做为该制程或该模具是否可达到公司或客户的要求.若无法达到要求时,品管人员即须对4MIE进行分析,提报改善方案进行改善.
5.2.1.2.Ca值的求法:
T=规格上限-规格下限=规格公差
Ca值的判续:
Ca值予以评价的主要目的,是能够确切地来区分制程准确度的好坏,并依据制程准确度的好坏而对制程的4MIE有所处置.
中心值是否一致
等级 Ca值 处理方法
A ∣Ca|≦12.5% 理想状态,继续维持
B 12.5%<∣Ca|≦25% 尽可能调整,改进为A级
C 25%<∣Ca|≦50% 应立即检讨并予改善
D 50<∣Ca| 采取紧急措施,并全面检讨,必要时应考虑停止生产.
注:所谓改善是所采取的方法与目前既有的方法不一样者才称为改善,而非依目前的方法只要求全面加强力度而已.
5.2.1.3.Cp值的求法
规格公差 T
Cp值= = …………………………………双边规格时
6个估计实绩标准 6 ô
规格上限-实绩平均值 Su-X
Cp值= =
3个估计实绩标准差 3 ô
实绩平均值-规格下限 X-S1
Cp值= = ………………………单边规格时
3个估计实绩标准差 3 ô
Cp值的判读:
Cp值予以评价的主要目的,是能够确切地来区分制程精密度的好坏,当Cp值愈大时,代表在此工程的生产条件(4MIE)非常的好,反之则代表制程的精密度不好.
分散宽度的大小
等级 Cp值 处理方法
A+ Cp≥1.67 产品变异如大一些也没关系,应考虑管理的简单化或降低成本的方法.
A 1.67>Cp≥1.33 理想状态、继续保持现状
B 1.33>Cp≥1.00 须确实进行制程管理,使其保持在管理状态,当Cp值接近于1时,恐怕会产生不良品,应尽可能改善为A级
C 1.00>Cp≥0.67 已产生不良品,产品须全数选别,并进行管理与制程的改善.
D 0.67>Cp 质量无法在满足的状态,须进行质量的改善探求原因,并采取紧急对策,重新检讨所管制的各项规格是否有问题.
R
注: ô= d2 R各组样品之数据全距的平均值
样品数 2 3 4 5 6 7 8 9 10
d2 1.13 1.69 2.06 2.33 2.53 2.7 2.85 2.97 3.08
5.2.1.4.CpK值的求法:
CpK=Cp×(1-︱Ca︱)
CpK值的判读:
CpK值予以评价的主要目的,在于能够准确地分析制程综合能力的好坏,因Ca值只考虑实绩中心值(X) 与规格中心值(U)两者的比较,而未考虑变异的宽度,即与实绩估计标准差(ô)无关,而Cp值又只考虑实绩估计标准差(ô)即变异的宽度与规格公差(T)两者的比较,需未考虑到中心的位置,即与实绩中心值(X)无关,所以无论Ca、Cp值均不能像CpK值对制程作一客观的评价,而反过来在CpK值不理想时可再通过Ca或Cp值寻找出不理想的方向.
形状变化
U= X
等级 CpK值 处理方法
A+ CpK≥1.67 产品变异如大一些也没关系,应考虑管理的简单化或降低成本的方法.
A 1.67>CpK≥1.33 理想状态、继续保持现状
B 1.33>CpK≥1.00 须确实进行制程管理,使其保持在管理状态,当CpK值接近于1时,恐怕会产生不良品,应尽可能改善为A级.
C 1.00>CpK≥0.67 已产生不良品,产品须全数选别,并进行管理与制程的改善.
D 0.67>CpK 质量无法在满足的状态,须进行品质的改善探求原因,并采取紧急对策,重新检讨所管制的各项规格是否有问题.
5.2.1.5.CpK值与不良率对照表
No. P 說 明 CpK值
1 0.31732=31.7 X 10-2 1σ原則的合格品率為68% CpK=0.33
2 0.045500=4.55 X 10-2 2σ原則的合格品率為95.4% CpK=0.67
3 0.0226996≈0.027=2.70 X 10-2 3σ原則的合格品率為99.73% CpK=1.0
4 6.3342X10-5≈63.3ppm 4σ原則的合格品率為99.994% CpK=1.33
5 5.7330 X 10-7≈0.573ppm 5σ原則的合格品率為99.9994% CpK=1.67
6 1.97316 X 10-9≈2ppb 6σ原則的合格品率為99.9999998% CpK=2.0
5.2.2.管制图的应用
5.2.2.1.凡符合5.1.2须实施管制作业时,若须实施管制的质量特性其数据可连续性来计量者,如尺寸、化学成份、强度、重量等计量值,原则上使用x-R管制图.若质量特性其数据是依事前指定的特性之后需将特性相同的产品个数加以累计者,如不良数,缺点数等计数值,原则上使用P不良率管制图,其它则使用柱状图、推移图等.
5.2.2.2.R管制图的应用分析流程:见下图一
5.2.2.3 x管制图的应用分析流程: 见下图二
5.2.2.4.P不良率管制图的应用分析流程: 见下图三
规格公差内即分为三个区域
规格下限1/4PC线 1/2 3/4线 规格上限
D)制程或机械调整后,必须回到B)项,即必须连续五件样品皆在PC线内.方可再执行C)项.
E)如果连续抽取25个样品以上,且均不必修正制程则可以减少抽样的频率,反之如果在25个样品以前即须修正制程,则应考虑增加抽样频率.
Cp表示过程加工的均匀性,即 “质量能力”,Cp值越大,则质量特性值的分布越集中,质量能力越强;
Cpk表示过程中心与公差中心M的偏移情况,Cpk值越大,则二者偏离越小,过程中心与公差中心重合度越好。
六、附件/表格
6.1 图一 R管制图的应用分析流程
6.2 图二 x管制图的应用分析流程
6.3 图三 P不良率管制图的应用分析流程
6.4 频数分布直方图作业流程
6.3 -R管制图制作作业流程
6.4 工序能力指数CP及CPK分析作业流程
图一 R管制图的应用分析流程
图二 x管制图的应用分析流程
图三 P不良率管制图的应用分析流程
附件1 频数分布直方图作业流程图
工作流程 工作內容
5.1判定制作频数分布直方图用的数据性质
(如度-尺寸、量-数量、衡-重量等);
5.2用数据表收集检测数据(数据数目不少于
120个,用n表示)
4.3点算数据数目n,并定出组(柱)的数目k(不
得少于六组);k
4.4找出样本中的最大值Xmax,最小值Xmin;
4.5确定组距(h) h= Xmax-Xmin /k(组数)
4.6确定各组的边界值和组的中心值;
第一组下界=Xmin-测量值的最小位数的一
半.
第一组上界=下组界+组距.
第二组下界=第一组上界.其它依此类推.
组的中心值=(组上界+组下界)/2
4.7制作频数分布表,统计落入各组(柱)的数
值出现的次数;
4.8根据频数表中的数据制作直方图,横轴表
示测量值的变化,纵轴表示次数,将各组的
界标示在横轴上,各组的次数则用柱形划
在各组距上;
4.9直方图左右对称,表示测量值呈常态分布,
显示制程能力正常。
附件2 -R管制图制作作业流程图
工作流程 工作內容
5.2.1决定每组抽取样本数量(n),检查员每次随机抽取样本数n,并将测量数据填入 -R管制图表内;
5.2.2决定组数N,每LOT收集样本数最少25组.
5.2.3计算各组的平均值 及各组全距数值R,填入 -R表内;公式: =ΣXi/nR=Xmax-Xmin
5.2.4计算 的平均值 和R的平均值 ,填入
-R表中;
公式: =Σ /N =ΣR/N
5.2.5确定X管制图的中心线CL、上限UCL、下限LCL;
公式:CL= UCL= +A2R LCL= -A2R
5.2.6确定R管制图的上限UCL,下限LCL,中心线;
公式:CL= UCL=D4 LCL=D3
5.2.7依据上述数据画出 -R管制图的UCL、CL、LCL并将打点连接;
5.2.8根据管制图的判断异常和判断稳定准则进行数据处理。
附件3 工序能力指数CP及CPK分析作业流程图
工作流程 工作內容
4.3.1根据频数分布直方图,求出平均值 和标准差S;
公式: =ΣX/n S=
4.3.2实际分布中心与规格中心重合时,程序能力指数为:
Cp= 规格上限-规格下限 /6S
4.3.3实际分布中心偏离规格中心时,程序能力指数为:
Cpk ={ 规格上限- /3S; -规格下限 /3S}或Cpk= (1-k)Cp
4.3.3.1当被测参数为双向公差时,Cpk值选择数值较小的结果作为评价的标准;当被测参数为单向公差时,Cpk值选择规格上限的计算值作为评价的标准;
4.3.3.2式中(k)表示平均值与规格中心的相对偏离程度;
4.3.3.3在实际运用过程中,一般不会出现分布中心与规格中心重合的情况,所以通常采用Cpk值作为过程能力指数的评估值。
4.3.3.4根据Cp值评价过程能力:
4.3.3.5.1 1.67<Cp 过程能力过度;
4.3.3.5.2 1.33<Cp≦1.67过程能力充分;
4.3.3.4.3 1.0<Cp≦1.33过程能力尚可:应设法维持;
4.3.3.4.4 Cp≦1.0,过程能力不足,有改善必要;
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